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氧化鋅壓敏電阻的缺陷:
ZnO壓敏電阻器中的缺陷有正一價(jià)和正二價(jià)的Zni和Vo,負(fù)一價(jià)和負(fù)二價(jià)的
VZn ,正一價(jià)的DZn。VZn主要在晶界處,VZn為受主態(tài),使晶粒表面形成一電子耗盡層而產(chǎn)生勢(shì)壘,約0.7eV。Zni容易遷移為亞穩(wěn)態(tài),是老化產(chǎn)生的根源所在。DZn可降低晶粒體的電阻,提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少,主要存在于晶界中。高溫時(shí)原子運(yùn)動(dòng)加劇,在晶界中形成大量的VZn和Vo,但Vo在冷卻過程中容易從空氣中吸收氧而消失。
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低電場(chǎng)區(qū)域的漏電流
漏電流包括阻性和容性兩部分,交流電壓下容性電流比阻性電流大得多。溫度升高或電場(chǎng)增大,阻性電流增大。壓敏電壓的溫度系數(shù)在-10-4/℃—-10-3/℃之間,計(jì)算公式如下:
T=dU1mA/(U1mAdT)
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壓敏電阻交流作用下的老化機(jī)理
交流作用下。在正半周時(shí),假設(shè)右側(cè)為正極性,電壓主要加在右側(cè)的耗盡層上,使右側(cè)的Zni向晶界遷移,而左側(cè)所加電壓很低,Zn
i向晶粒內(nèi)遷移不大;在負(fù)半周,電壓主要加在左側(cè),使左側(cè)Zni向晶界遷移,右側(cè)這時(shí)所加電壓很低,Zni向晶粒體內(nèi)遷移不大。總的結(jié)果是左右兩側(cè)的Zni都向晶界遷移。
源林電子是一家專業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)壓敏電阻的高科技電子元器件企業(yè)。主營(yíng)壓敏電阻、熱敏電阻和溫度傳感器,自有研發(fā)團(tuán)隊(duì),廠家直銷!
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