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氧化鋅壓敏電阻的缺陷:
ZnO壓敏電阻器中的缺陷有正一價(jià)和正二價(jià)的Zni和Vo,負(fù)一價(jià)和負(fù)二價(jià)的
VZn ,正一價(jià)的DZn。VZn主要在晶界處,VZn為受主態(tài),使晶粒表面形成一電子耗盡層而產(chǎn)生勢(shì)壘,約0.7eV。Zni容易遷移為亞穩(wěn)態(tài),是老化產(chǎn)生的根源所在。DZn可降低晶粒體的電阻,提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少,主要存在于晶界中。高溫時(shí)原子運(yùn)動(dòng)加劇,在晶界中形成大量的VZn和Vo,但Vo在冷卻過(guò)程中容易從空氣中吸收氧而消失。
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老化機(jī)理:
曾經(jīng)被認(rèn)為是老化的起因的有電子陷阱,偶極子轉(zhuǎn)向,氧脫附和離子遷移,目前能證實(shí)的只有填隙鋅離子遷移。一般認(rèn)為老化是晶界現(xiàn)象,是由于耗盡層內(nèi)離子遷移,而Zni是主要的遷移離子。
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