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晶粒邊界到晶粒的電位陡降發(fā)生在≈50 ̄100nm 的距離內(nèi),稱為耗盡層。這樣, 在每個晶粒邊界處都存在晶粒邊界向兩側(cè)延展入相鄰晶粒 的耗盡層。晶粒間存在耗盡層提高了壓敏電阻的作用。 晶粒邊界兩側(cè)兩個耗盡層的存在,使得 ZnO 壓敏電 阻對極性變化不敏感。在這一方面,壓敏電阻像一個背對 背的二極管。進(jìn)一步說,由于晶粒邊界附近區(qū)域的電子被 耗盡,當(dāng)施加外電壓時,跨在晶粒邊界上出現(xiàn)一電壓降。 這被稱作勢壘電勢,一般是≈2 ̄4V/(每晶粒邊界)。
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殘壓比KR
通過壓敏電阻器的電流為某一值時,在它兩端所產(chǎn)生的電壓稱為這一電流值的殘壓。殘壓比則是殘壓與標(biāo)稱電壓之比。
殘壓比KR的定義公式為:
KR =UR/UN
殘壓比可以比較直觀地反應(yīng)出壓敏電阻限制過電壓的能力,在壓敏材料的研究工作中已得到廣泛的應(yīng)用,在防雷壓敏電阻、避雷器閥片和高能型壓敏電阻閥片中以成為標(biāo)準(zhǔn)電性能參數(shù)。
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