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壓敏電阻的物理特性:
ZnO 壓敏電阻的非線性是一種晶粒邊界現(xiàn)象,即在相 鄰晶粒耗盡層中存在多數(shù)電荷載流子(電子)的勢壘。認(rèn) 為肖特基勢壘像 ZnO 微結(jié)構(gòu)中晶粒邊界勢壘。晶粒邊界 上的負(fù)表面電荷(電子捕獲)是由晶界面兩側(cè)晶粒的耗盡 層的正電荷來補(bǔ)償?shù)摹犭娮影l(fā)射和隧道效應(yīng)是主要的傳 輸機(jī)制。 近發(fā)展的壓敏電阻勢壘的晶粒邊界缺陷模型在改進(jìn) 穩(wěn)電壓應(yīng)力下,壓敏電阻的穩(wěn)定性上取得了很大進(jìn)展。
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氧化鋅壓敏電阻的功率損耗和阻性電流的增加:
在直流電壓作用下對氧化鋅壓敏電阻進(jìn)行加速老化試驗(yàn),試驗(yàn)結(jié)果表明,與交流電壓作用下壓敏電阻一樣,氧化鋅壓敏電阻的功率損耗和阻性電流在老化試驗(yàn)過程中明顯增加
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